日本:商標審査基準の大幅見直し

特許庁は、商標審査基準について大幅に見直しを行ったと発表いたしました。

今回の改訂は2017年4月1日以降の審査に適用されます。改訂があったのは以下の2点です。

① 内容面の観点からは、各条項における用語の定義及び解説並びに事例を追加 ② 構成面の観点からは、各項目に係る見出しの追加、用語の統一等

具体的には以下のサイトをご参照ください。

  1. http://www.jpo.go.jp/torikumi/t_torikumi/pdf/13th_kaitei_h29/13han.pdf

  2. http://www.meti.go.jp/press/2016/03/20170328005/20170328005.html

本件に関する詳しい内容につきましては、お問い合わせください。

03-5784-1069

​東京都渋谷区桜丘町26−1

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